定时的指标都有离散性，正态分布（normal distribution）一类

就是说，厂家设计时，软件给出定时，生产时，光刻腐蚀到比如20纳米，哪有那末精确不变的？谁能把所有指标都测一遍？不过是按统计规律到比如说95%，或98%，几亿台下来，0.1%的失效也蛮可观。

温度一变，定时就变，开机时定时对准，不等于长时间不变；测试36小时正常，不等于48小时无错，所以，商业的DDR，都有ECC纠错，军用的芯片，余量都很大。

我用了几十年电脑，唯一整机坏的，是一台ipad 4，保修期过了不到一年。修理费与新品相同，还扔在家里。

硬盘故障率，每年约4%，大家还是照样用。专业raid阵列容错，比如一个坏了，可以换下来不影响整机，后来才发现在重构时由于读写量大，剩下的也接二连三的坏，结果数据丢失。